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PRODUCTS CENTER
產品動態(tài)
E36100B keysight
SMU | 電源測試
? 5 種型號任由選擇，提供高達 5 A 的電流或 100 V 的電壓
? 輸出噪聲低，適用于敏感器件——紋波和噪聲小于 350μVrms
? 為器件提供過壓保護和過流保護
? 輸出噪聲低，適用于敏感器件——紋波和噪聲小于 350μVrms
? 為器件提供過壓保護和過流保護
E4809A Agilent
BERT 誤碼儀
? 81200: 可配置為675 Mb/s至2.7 Gb/s的分析
? 81250: 可配置為675Mb/s至45Gb/s分析
? 模塊化誤碼率測試平臺
? 生成和分析PRWS、PRBS和用戶定義的模式
? 81250: 可配置為675Mb/s至45Gb/s分析
? 模塊化誤碼率測試平臺
? 生成和分析PRWS、PRBS和用戶定義的模式
86038A keysight
光模塊
? ??PMD、CD、GD、PDL 和 IL 的快速單連接測量，具有改進的規(guī)格
? ??在寬損耗動態(tài)范圍內具有領先的GD可重復性
? ??出色的窄帶設備測量分辨率
? ??波長工作范圍：1260 - 1640 nm（O 至 L 波段）
? ??在寬損耗動態(tài)范圍內具有領先的GD可重復性
? ??出色的窄帶設備測量分辨率
? ??波長工作范圍：1260 - 1640 nm（O 至 L 波段）
U2761A keysight
BERT/任意波形發(fā)生器
? 20 MHz 正弦波和方波
? 斜波、三角波、脈沖和直流波形
? 14 位、50 MSa/s、64 K 數(shù)據(jù)點的任意波形
? 任意波形（14 位，64K 數(shù)據(jù)點，50 MS/s）
? 斜波、三角波、脈沖和直流波形
? 14 位、50 MSa/s、64 K 數(shù)據(jù)點的任意波形
? 任意波形（14 位，64K 數(shù)據(jù)點，50 MS/s）
R&S?RTB2000 示波器
采樣示波器/模塊
? 帶寬：70 MHz 至 300 MHz
? 采樣率：最大 2.5 Gsample/s
? 存儲深度：最大 20 Msample
? 采樣率：最大 2.5 Gsample/s
? 存儲深度：最大 20 Msample
N7745A Keysight
光功率計/探頭
? 1 μs 最小平均時間
? 8 個傳感器端口
? 功率不確定度 ±2.5 %
? 偏振相關性低于 ±0.01 dB
? 8 個傳感器端口
? 功率不確定度 ±2.5 %
? 偏振相關性低于 ±0.01 dB
81634A Agilent
光功率計/探頭
? 功率范圍：+ 10 dBm 至 - 110 dBm
? 波長范圍：800-1700 nm
? 波長范圍：800-1700 nm
34470A Keysight
源測量單元 (SMU)
? 16 ppm 基本 DCV 準確度使您可以充滿信心地進行測量。
? 1 μA 量程和 pA 分辨率可以測試小功率器件。
? 可通過 USB 或 LAN/LXI 核心接口進行靈活的自動化測量。
? 現(xiàn)在包括數(shù)字化和先進觸發(fā)（DIG）功能。
? 1 μA 量程和 pA 分辨率可以測試小功率器件。
? 可通過 USB 或 LAN/LXI 核心接口進行靈活的自動化測量。
? 現(xiàn)在包括數(shù)字化和先進觸發(fā)（DIG）功能。
J7204B Keysight
光衰減器
? 重復使用 500 萬次后插入損耗僅為 0.03 dB 的出色可重復性
? 出色的衰減準確度和平坦度確保實現(xiàn)精確測量
? 多達 4 個通道的多通道衰減路徑使您能夠一次測量多個被測器件
? 出色的衰減準確度和平坦度確保實現(xiàn)精確測量
? 多達 4 個通道的多通道衰減路徑使您能夠一次測量多個被測器件
